弛豫时间对双势垒结构电子输运性质的影响(英文)

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	弛豫时间对双势垒结构电子输运性质的影响(英文)
	戴振宏 ; 倪军
刊名	http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200604004&dbname=CJFQ2006
	2012-04-22 ; 2012-04-22
关键词	非平衡 Wigner函数电子输运
中文摘要	利用对双势垒器件非平衡态电子输运性质的含时动力学模拟计算,分析了弛豫时间对这类低维器件电子输运特性的影响.结果表明,由于电子声子、电子杂质和电子缺陷等相互作用导致的弛豫时间对器件IV曲线产生很大的影响,即电流滞后类平台结构的倾斜度以及电流滞后区的宽度.
语种	中文
其他责任者	清华大学物理系原子与分子纳米科学重点实验室 ; 清华大学物理系原子与分子纳米科学重点实验室北京100084烟台大学物理系 ; 烟台264005 ; 北京100084
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.calis.edu.cn/hdl/211310/1523]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	戴振宏,倪军. 弛豫时间对双势垒结构电子输运性质的影响(英文)[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200604004&dbname=CJFQ2006,2012, 2012.
APA	戴振宏,&倪军.(2012).弛豫时间对双势垒结构电子输运性质的影响(英文).http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200604004&dbname=CJFQ2006.
MLA	戴振宏,et al."弛豫时间对双势垒结构电子输运性质的影响(英文)".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=BDTX200604004&dbname=CJFQ2006 (2012).