题名 | 半导体材料特性的光载流子辐射检测技术研究 |
作者 | 王谦 |
学位类别 | 博士 |
答辩日期 | 2016-05 |
授予单位 | 中国科学院研究生院 |
授予地点 | 北京 |
导师 | 李斌成 |
关键词 | 光载流子辐射,载流子输运参数,多参数拟合,超浅结,缺陷 |
学科主题 | 光学工程 |
内容类型 | 学位论文 |
源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/8007] ![]() |
专题 | 光电技术研究所_光电技术研究所博硕士论文 |
作者单位 | 中国科学院光电技术研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王谦. 半导体材料特性的光载流子辐射检测技术研究[D]. 北京. 中国科学院研究生院. 2016. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论