| 题名 | 40 Gb_s光电探测器小信号测试法和大信号测试系统研究 |
| 答辩日期 | 2010 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院 |
| 导师 | 祝宁华 |
| 关键词 | 附加调制 光电探测器 谐波分析 误码率 |
| 学位专业 | 博士 ; 微电子学与固体电子学 |
| 中文摘要 | 光纤通信系统的高速发展，极大的促进了器件带宽和速率的提升，同时各种光电子器件测试方法也日益显现出了它们的局限性。在小信号频率响应测试方面，要求改进测试方法以适应宽带宽器件的测试要求。同时在大信号测试中，器件的发展也要求更高速率的测试系统。本论文主要研究新型的光电探测器高频响应测试方法，以实现更宽带宽和更高速率的测试。 光外差技术作为光谱与频谱分析的重要手段，将不易分辨的光谱结构转移到容易观察的电域，解决了光谱仪分辨率不高的问题。本文利用光外差技术分析了半导体激光器的附加调制现象，发现调制信号来源于激光器电流源制冷电路。最后通过隔离电流源直流驱动电路和制冷电路消除了附加调制效应。 本文提出了谐波分析法来测试高速光电探测器的频率响应，它可以克服传统扫频法在频率测试范围上受到的限制。我们在对调制器中的非线性效应及其谐波产生机制分析的基础上，由测量二次谐波有效地获得了探测器的频率响应曲线；通过小信号功率测试法对测试数据进行了校准，校准得出的结果和参考曲线符合得很好。测试结果显示，在相同的条件下，二次谐波分析法的频率测量范围为传统扫频法的两倍，并且有很高的精度。该方法为测试超高速光电探测器的带宽提供了新的解决途径。 为了满足高速率器件的测试要求，我们将10 Gb/s大信号测试系统升级为40Gb/s大信号传输测试系统。本系统可以对通信用光电子和微电子器件进行40 Gb/s的非归零伪随机码的传输参数测试，如眼图、误码率、信噪比、灵敏度等。另外，我们还开发了相应的自动测试程序。 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://202.127.2.71:8080/handle/181331/11021]  |
| 专题 | 上海技术物理研究所_全文传递文献库_qwcd 学位论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | . 40 Gb_s光电探测器小信号测试法和大信号测试系统研究[D]. 中国科学院研究生院. 2010. |
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