Sb_(80)Bi_(20)光学非线性纳米薄膜的超分辨效应 | |
翟凤潇; 张奎; 王阳; 吴谊群 | |
刊名 | 中国激光 |
2014 | |
卷号 | 41期号:7页码:707002 |
关键词 | 薄膜 Sb_(80)Bi_(20)薄膜 超分辨效应 Z 扫描测量 光学非线性 |
其他题名 | Super-Resolution Effect of Sb_(80)Bi_(20) Optical Nonlinearity Nanofilms |
中文摘要 | 利用Z-扫描测试技术研究了低功率下Sb_(80)Bi_(20)纳米薄膜的非线性光学特性,并利用椭圆偏振光谱仪测量了薄膜光学常数及椭偏参数。实验结果表明Sb_(80)Bi_(20)薄膜具有较大的饱和非线性光学吸收,非线性系数约为-0.018m/W,而非线性折射率效应却不明显。Sb_(80)Bi_(20)纳米薄膜的超分辨效应主要在于具有大的非线性吸收系数。理论计算表明35nm厚薄膜可使高斯光束半径缩小大约10%。因此Sb_(80)Bi_(20)薄膜有望用于近场超分辨结构。 |
英文摘要 | A Z-scan system is employed to investigate optical nonlinearity of Bi_(20)Sb_(80) thin films under low laser intensity.Optical constants and ellipsometric parameters are measured by spectroscopic ellipsometry.Experimental results indicate that Sb_(80)Bi_(20)films show giant nonlinear saturated absorption.The nonlinear absorption coefficient is about-0.018 m/W.However,there is no appreciable nonlinear refraction effect in measurement.The giant nonlinear saturated absorption is dominant response for super-resolution effect.The calculation result indicates that the squeezed half width of Gaussian spot with about 10%can be achieved in Sb_(80)Bi_(20) films with thickness of 35 nm. The Sb_(80)Bi_(20) nanofilms are shown to be very promising for super-resolution applications. |
收录类别 | EI |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
版本 | 出版稿 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/12839] |
专题 | 上海光学精密机械研究所_高密度光存储技术实验室 |
作者单位 | 1.翟凤潇, 郑州轻工业学院物理与电子工程学院, 郑州, 河南 450002, 中国. 2.张奎, 中国科学院上海光学精密机械研究所, 中国科学院强激光材料重点实验室, 上海 201800, 中国. 3.王阳, 中国科学院上海光学精密机械研究所, 中国科学院强激光材料重点实验室, 上海 201800, 中国. 4.吴谊群, 中国科学院上海光学精密机械研究所, 中国科学院强激光材料重点实验室, 上海 201800, 中国. |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 翟凤潇,张奎,王阳,等. Sb_(80)Bi_(20)光学非线性纳米薄膜的超分辨效应[J]. 中国激光,2014,41(7):707002. |
APA | 翟凤潇,张奎,王阳,&吴谊群.(2014).Sb_(80)Bi_(20)光学非线性纳米薄膜的超分辨效应.中国激光,41(7),707002. |
MLA | 翟凤潇,et al."Sb_(80)Bi_(20)光学非线性纳米薄膜的超分辨效应".中国激光 41.7(2014):707002. |
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