晶体性能综合检测仪研究

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	晶体性能综合检测仪研究
	薄锋 ; 师树恒 ; 王勇 ; 朱健强
刊名	仪器仪表学报
	2006
卷号	27 期号:9 页码:1048
关键词	综合性自动化消光比半波电压相位延迟
ISSN号	0254-3087
其他题名	Study of an integrated measurement instrument for properties of crystal
中文摘要	本文研制了一种晶体的静态消光比、电光晶体的静态消光比或动态消光比、电光晶体的半波电压和波片的相位延迟的综合性自动化测量仪。该仪器采用偏振光干涉测量技术、调制光源技术、解调电路、软件除法技术，将光、机、电一体化技术和计算机控制技术有效地结合起来，既可用于科研，也可用于生产现场，实现晶体消光比、半波电压和波片相位延迟3个参数的一体化快速自动化测量。实践证明，运用文中的测量原理和方法，晶体的消光比测量可达到10^-6，波片相位延迟的测量重复性精度优于0．5°，此外，运用电光晶体的纵向调制技术，还可精确测量出电光
分类号	TN21
收录类别	ei
语种	中文
公开日期	2009-09-18
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/3714]
专题	上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	薄锋,师树恒,王勇,等. 晶体性能综合检测仪研究[J]. 仪器仪表学报,2006,27(9):1048, 1051.
APA	薄锋,师树恒,王勇,&朱健强.(2006).晶体性能综合检测仪研究.仪器仪表学报,27(9),1048.
MLA	薄锋,et al."晶体性能综合检测仪研究".仪器仪表学报 27.9(2006):1048.