小顶角平台硅中阶梯光栅光刻胶掩模制备工艺研究
焦庆斌
刊名长春工业大学学报
2015-06-15
期号03页码:288-292
关键词紫外曝光 倒置热熔 硅中阶梯光栅 湿法刻蚀
中文摘要为降低硅中阶梯光栅制作工艺中顶角平台对光栅衍射效率的影响,提出了紫外曝光-倒置热熔结合法用于制备具有小占宽比的光刻胶掩模,对中阶梯光栅设计、硅基片准备以及光刻胶掩模制备等环节进行了研究。AFM测试结果表明,可以制备占宽比为1∶5的光刻胶掩模,远远超出光栅理论设计中对顶角平台尺寸的要求。
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/54151]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
焦庆斌. 小顶角平台硅中阶梯光栅光刻胶掩模制备工艺研究[J]. 长春工业大学学报,2015(03):288-292.
APA 焦庆斌.(2015).小顶角平台硅中阶梯光栅光刻胶掩模制备工艺研究.长春工业大学学报(03),288-292.
MLA 焦庆斌."小顶角平台硅中阶梯光栅光刻胶掩模制备工艺研究".长春工业大学学报 .03(2015):288-292.
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