基于全光交叉偏振调制的空间方向角测量系统
孙文惠 ; 李伟 ; 王文亭 ; 王玮钰 ; 佟有万 ; 刘建国 ; 祝宁华 ; 袁海庆
专利国别中国
专利类型发明
权利人中国科学院半导体所
学科主题光电子学
公开日期2016-08-30
申请日期2014-12-17
专利申请号CN201410785343.3
内容类型专利
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27207]  
专题半导体研究所_光电子研究发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
孙文惠,李伟,王文亭,等. 基于全光交叉偏振调制的空间方向角测量系统.
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