双色、微区反射式瞬态光谱测量系统
闫腾飞 ; 牛秉慧 ; 高海霞 ; 李杭 ; 闫炜 ; 历巧巧 ; 张新惠
专利国别中国
专利类型发明
权利人中国科学院半导体所
学科主题半导体物理
公开日期2016-09-28
申请日期2015-04-29
专利申请号CN201510212354.7
内容类型专利
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27551]  
专题半导体研究所_半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
闫腾飞,牛秉慧,高海霞,等. 双色、微区反射式瞬态光谱测量系统.
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