双色、微区反射式瞬态光谱测量系统 | |
闫腾飞 ; 牛秉慧 ; 高海霞 ; 李杭 ; 闫炜 ; 历巧巧 ; 张新惠 | |
专利国别 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院半导体所 |
学科主题 | 半导体物理 |
公开日期 | 2016-09-28 |
申请日期 | 2015-04-29 |
专利申请号 | CN201510212354.7 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27551] ![]() |
专题 | 半导体研究所_半导体超晶格国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 闫腾飞,牛秉慧,高海霞,等. 双色、微区反射式瞬态光谱测量系统. |
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