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	IN SITU SECONDARY ELECTRON YIELD MEASUREMENT SYSTEM AT CesrTA
	Y.Li; J.V.Conway; S.Greenwald; J.-S.Kim; V.Medjidzade; T.P.Moore; M.A.Palmer; C.R.Strohman
	2011
会议名称	Proceedings of 2011 Particle Accelerator Conference, New York, NY, USA
会议日期	2011
会议地点	New York
页码	1253--1255
内容类型	会议论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/243333]
专题	学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_NA-PAC
作者单位	CLASSE, Ithaca, New York, USA
推荐引用方式 GB/T 7714	Y.Li,J.V.Conway,S.Greenwald,et al. IN SITU SECONDARY ELECTRON YIELD MEASUREMENT SYSTEM AT CesrTA[C]. 见:Proceedings of 2011 Particle Accelerator Conference, New York, NY, USA. New York. 2011.

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