相变存储结构
程国胜
2014-09-03
专利国别中国
专利号203812919U
专利类型实用新型
权利人中国科学院
中文摘要本申请公开了一种相变存储结构,包括:下电极层;形成于所述下电极层上的绝热层,所述绝热层的上开设有沟槽;相变材料层,覆盖于所述沟槽的内壁表面,且所述相变材料层围成一容纳空间;上电极,填充于所述容纳空间内;下加热电极,连接于所述下电极层和相变材料层的底部之间;侧加热电极,连接于所述相变材料层的外侧壁;顶电极,连接于所述侧加热电极。本实用新型的相变存储单元中,引入了侧加热电极,与传统具有单一的下加热电极相比,本实用新型能够有效提高器件的存储密度,满足相变存储器的应用需求。
公开日期2014-11-27
申请日期2014-04-02
专利申请号201420155621.2
内容类型专利
源URL[http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/1555]  
专题苏州纳米技术与纳米仿生研究所_纳米生物医学与安全研究部_程国胜团队
推荐引用方式
GB/T 7714
程国胜. 相变存储结构. 203812919U. 2014-09-03.
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