相变存储结构 | |
程国胜 | |
2014-09-03 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | 203812919U |
专利类型 | 实用新型 |
权利人 | 中国科学院 |
中文摘要 | 本申请公开了一种相变存储结构,包括:下电极层;形成于所述下电极层上的绝热层,所述绝热层的上开设有沟槽;相变材料层,覆盖于所述沟槽的内壁表面,且所述相变材料层围成一容纳空间;上电极,填充于所述容纳空间内;下加热电极,连接于所述下电极层和相变材料层的底部之间;侧加热电极,连接于所述相变材料层的外侧壁;顶电极,连接于所述侧加热电极。本实用新型的相变存储单元中,引入了侧加热电极,与传统具有单一的下加热电极相比,本实用新型能够有效提高器件的存储密度,满足相变存储器的应用需求。 |
公开日期 | 2014-11-27 |
申请日期 | 2014-04-02 |
专利申请号 | 201420155621.2 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/1555] |
专题 | 苏州纳米技术与纳米仿生研究所_纳米生物医学与安全研究部_程国胜团队 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 程国胜. 相变存储结构. 203812919U. 2014-09-03. |
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