硅片接触表面的弹性形变范围
韩伟华
刊名半导体光电
2001
卷号22期号:6页码:440
学科主题半导体材料
收录类别CSCD
资助信息国家973计划,国家自然科学基金
语种中文
公开日期2010-11-23
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18975]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
韩伟华. 硅片接触表面的弹性形变范围[J]. 半导体光电,2001,22(6):440.
APA 韩伟华.(2001).硅片接触表面的弹性形变范围.半导体光电,22(6),440.
MLA 韩伟华."硅片接触表面的弹性形变范围".半导体光电 22.6(2001):440.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace