分子束外延InAs量子点材料的透射电子显微镜研究

	分子束外延InAs量子点材料的透射电子显微镜研究
	白元强 ; 莫庆伟 ; 范缇文
刊名	北京科技大学学报
	1999
卷号	21 期号:2 页码:182
中文摘要	报道了利用分子束外延技术在(001)GaAs衬底上生长的单层及多层InAs量子点材料的透射电子显微镜(TEM)研究结果，并对量子点的结构特性进行邓讨论。结果表明
学科主题	半导体材料
收录类别	CSCD
资助信息	国家自然科学基金
语种	中文
公开日期	2010-11-23
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18595]
专题	半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前）
推荐引用方式 GB/T 7714	白元强,莫庆伟,范缇文. 分子束外延InAs量子点材料的透射电子显微镜研究[J]. 北京科技大学学报,1999,21(2):182.
APA	白元强,莫庆伟,&范缇文.(1999).分子束外延InAs量子点材料的透射电子显微镜研究.北京科技大学学报,21(2),182.
MLA	白元强,et al."分子束外延InAs量子点材料的透射电子显微镜研究".北京科技大学学报 21.2(1999):182.