简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究

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	简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究
	史伟 ; 房昌水 ; 潘奇伟 ; 孟凡青 ; 顾庆天 ; 许东 ; 陈钢进 ; 余金中
刊名	物理学报
	2000
卷号	49 期号:2 页码:262
中文摘要	简单反射法是电光聚合物薄膜研究中测量线性电光系数(Pockels系数)的一种简单而常采用的方法，但文献中关于在调制电场作用下s光和p光光程差和位相差改变的计算有不尽完善之处，线性电光系数的表达结果也不尽相同。在充分考虑各种因素的情况下，对该方法给出了合理的理论处理，得出了简单反射法更为严格的线性电光系数表达式。并测量对比了几种聚合物线性电光系数的结果。讨论了简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的局限性。
英文摘要	简单反射法是电光聚合物薄膜研究中测量线性电光系数(Pockels系数)的一种简单而常采用的方法，但文献中关于在调制电场作用下s光和p光光程差和位相差改变的计算有不尽完善之处，线性电光系数的表达结果也不尽相同。在充分考虑各种因素的情况下，对该方法给出了合理的理论处理，得出了简单反射法更为严格的线性电光系数表达式。并测量对比了几种聚合物线性电光系数的结果。讨论了简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的局限性。; 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:09:00导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:09:00Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5178.pdf: 256171 bytes, checksum: 23924f3fcf29656b7f0f9fc821775085 (MD5) Previous issue date: 2000; 国家自然科学基金; 山东大学;同济大学波耳固体物理研究所;中科院半导体所
学科主题	光电子学
收录类别	CSCD
资助信息	国家自然科学基金
语种	中文
公开日期	2010-11-23 ; 2011-04-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/18261]
专题	半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前）
推荐引用方式 GB/T 7714	史伟,房昌水,潘奇伟,等. 简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究[J]. 物理学报,2000,49(2):262.
APA	史伟.,房昌水.,潘奇伟.,孟凡青.,顾庆天.,...&余金中.(2000).简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究.物理学报,49(2),262.
MLA	史伟,et al."简单反射法测量聚合物薄膜线性电光系数的研究".物理学报 49.2(2000):262.