利用半导体二极管伏安特性进行朗缪尔探针性能测试研究

	利用半导体二极管伏安特性进行朗缪尔探针性能测试研究
	刘超; 关燚炳; 张爱兵; 孙越强; 梁金宝; 郑香脂; 丁建京; 孔令高; 田峥; 王文静
刊名	空间科学学报
	2015
卷号	35 期号:6 页码:763-768
关键词	朗缪尔探针性能测试伏安特性半导体二极管
ISSN号	0254-6124
其他题名	Study on Technology of Using Semiconductor Diode Volt-Ampere Characteristic to Test Langmuir Probe Performance
通讯作者	liuch@nssc.ac.cn
中文摘要	研究讨论了一种利用半导体二极管伏安特性进行朗缪尔探针性能测试的方法.设计的朗缪尔探针性能测试方法对外界因素要求较低,在常温常压的通常实验室环境下即可进行,其测试结果可作为利用地面等离子体环境进行定标测试前的初步性能验证.通过实验室环境下的测试试验,验证了该方法的有效性和可行性.
英文摘要	A technique of using a semiconductor diode volt-ampere characteristic to test Langmuir probe performance is presented. The Langmuir probe is an important technique for in-suit detecting the space plasma, and its performance test is the key to ensure that its technical indicators can meet the mission requirements. The technique of using a semiconductor diode volt-ampere characteristic demands less of external factors, so it can be carried out in a laboratory environment. The test results can be used as preliminary performance verification before calibration test of ground plasma environment, and it is proved that the method is effective and feasible in a lab environment test.
收录类别	CSCD
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:5566658
公开日期	2016-04-26
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/5354]
专题	国家空间科学中心_空间环境部
推荐引用方式 GB/T 7714	刘超,关燚炳,张爱兵,等. 利用半导体二极管伏安特性进行朗缪尔探针性能测试研究[J]. 空间科学学报,2015,35(6):763-768.
APA	刘超.,关燚炳.,张爱兵.,孙越强.,梁金宝.,...&王文静.(2015).利用半导体二极管伏安特性进行朗缪尔探针性能测试研究.空间科学学报,35(6),763-768.
MLA	刘超,et al."利用半导体二极管伏安特性进行朗缪尔探针性能测试研究".空间科学学报 35.6(2015):763-768.