扩展OSL方法校准微波双口测试夹具
陈振宇 ; 王幼林 ; 祝宁华
刊名电子学报
2002
卷号30期号:11页码:1711-1714
中文摘要常规的OSL(open-short-load)校准方法具有简便易行的特点,被广泛应用于单端口测量的测试夹具的校准。在本文中,OSL方法被首次扩展应用于双端口夹具的校准,并消除该方法带来的相位不确定问题。通过实验证明这种方法与SOLT(short-open-load-thru)方法同样精确。
英文摘要常规的OSL(open-short-load)校准方法具有简便易行的特点,被广泛应用于单端口测量的测试夹具的校准。在本文中,OSL方法被首次扩展应用于双端口夹具的校准,并消除该方法带来的相位不确定问题。通过实验证明这种方法与SOLT(short-open-load-thru)方法同样精确。; 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:07:54导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:07:54Z (GMT). No. of bitstreams: 1 5036.pdf: 266346 bytes, checksum: ef80460ee43320a91ebe2a9b649b5699 (MD5) Previous issue date: 2002; 国家杰出青年科学基金(No.698251 9); 中国科学院半导体研究所
学科主题光电子学
收录类别CSCD
资助信息国家杰出青年科学基金(No.698251 9)
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17979]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
陈振宇,王幼林,祝宁华. 扩展OSL方法校准微波双口测试夹具[J]. 电子学报,2002,30(11):1711-1714.
APA 陈振宇,王幼林,&祝宁华.(2002).扩展OSL方法校准微波双口测试夹具.电子学报,30(11),1711-1714.
MLA 陈振宇,et al."扩展OSL方法校准微波双口测试夹具".电子学报 30.11(2002):1711-1714.
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