二元高-k材料研究进展及制备 | |
杨少延![]() | |
刊名 | 功能材料
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2002 | |
卷号 | 33期号:5页码:462-464 |
中文摘要 | 随着大规模集成电路的发展,需要一种高介质材料来代替传统的SiO2,介绍了可能替代SiO2的几种二元材料的研究现状,主要包括Si3N4,Ta2O5,TiO2,ZrO2,Y2O3,Gd2O3和CeO2几种材料的结构和电学性能,以及制备薄膜的几种方法;蒸发法,化学气相沉积和离子束沉积。 |
学科主题 | 半导体材料 |
收录类别 | CSCD |
资助信息 | 国家973基金资助项目(G2 365 5) |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-11-23 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17791] ![]() |
专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨少延. 二元高-k材料研究进展及制备[J]. 功能材料,2002,33(5):462-464. |
APA | 杨少延.(2002).二元高-k材料研究进展及制备.功能材料,33(5),462-464. |
MLA | 杨少延."二元高-k材料研究进展及制备".功能材料 33.5(2002):462-464. |
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