低能离子束方法制备Fe组分渐变的Fe-Si薄膜
杨少延
刊名稀有金属
2004
卷号28期号:3页码:558-562
中文摘要利用质量分离的低能离子束技术,获得了Fe组分渐变的Fe-Si薄膜。利用俄歇电子能谱法(AEs)、x射线衍射法(XRD)以及x射线光电子能谱法(XPS)测试了薄膜的组分、结构特性。测试结果表明,在室温下制备的Fe-Si薄膜呈非晶态。非晶薄膜在400℃下退火20 rmn后晶化,没有Fe的硅化物相形成。退火后Fe-Si薄膜的Fe组分从表面向内部逐渐降低。
英文摘要利用质量分离的低能离子束技术,获得了Fe组分渐变的Fe-Si薄膜。利用俄歇电子能谱法(AEs)、x射线衍射法(XRD)以及x射线光电子能谱法(XPS)测试了薄膜的组分、结构特性。测试结果表明,在室温下制备的Fe-Si薄膜呈非晶态。非晶薄膜在400℃下退火20 rmn后晶化,没有Fe的硅化物相形成。退火后Fe-Si薄膜的Fe组分从表面向内部逐渐降低。; 于2010-11-23批量导入; zhangdi于2010-11-23 13:06:29导入数据到SEMI-IR的IR; Made available in DSpace on 2010-11-23T05:06:29Z (GMT). No. of bitstreams: 1 4748.pdf: 120199 bytes, checksum: fc911efaf4b1c8dbbca99eef153ec1f2 (MD5) Previous issue date: 2004; 国家自然科学基金(6 176 1;6 39 72),国家自然科学基金(6 176 1;6 39 72),国家重大基础研究计划资助项目(G2 365,G2 2CB3119 5); 中国科学院半导体研究所
学科主题光电子学
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金(6 176 1;6 39 72),国家自然科学基金(6 176 1;6 39 72),国家重大基础研究计划资助项目(G2 365,G2 2CB3119 5)
语种中文
公开日期2010-11-23 ; 2011-04-29
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/17463]  
专题半导体研究所_中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
杨少延. 低能离子束方法制备Fe组分渐变的Fe-Si薄膜[J]. 稀有金属,2004,28(3):558-562.
APA 杨少延.(2004).低能离子束方法制备Fe组分渐变的Fe-Si薄膜.稀有金属,28(3),558-562.
MLA 杨少延."低能离子束方法制备Fe组分渐变的Fe-Si薄膜".稀有金属 28.3(2004):558-562.
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