基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试

	基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试
	徐品; 陈元柏; 赵书俊; 王小胡; 赵豫斌; 章红宇
刊名	核电子学与探测技术
	2010
期号	4 页码:480-483
关键词	X射线阈值位置分辨高斯法
其他题名	The Text of Electronics Based VME Used for MWPC
中文摘要	利用多丝正比室对基于VME机箱读出电子学及数据获取系统进行调试,调试过程中对电子学系统的一些参数进行了合理的设置,同时对电子学的性能进行了测试,使得电子学系统的设置符合多丝正比室探测器的要求,以提高探测器的性能。同时对两种不同的数据处理方法进行了比较,测得多丝正比室的沿着阳极丝方向的位置分辨约为0.2~0.3 mm。
公开日期	2016-02-26
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219997]
专题	高能物理研究所_实验物理中心
推荐引用方式 GB/T 7714	徐品,陈元柏,赵书俊,等. 基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试[J]. 核电子学与探测技术,2010(4):480-483.
APA	徐品,陈元柏,赵书俊,王小胡,赵豫斌,&章红宇.(2010).基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试.核电子学与探测技术(4),480-483.
MLA	徐品,et al."基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试".核电子学与探测技术 .4(2010):480-483.