北京谱仪积分亮度测量的新方法
黄光顺; 程宝森; 苑长征; 李新华; 祁向荣; 刘靖; 陈光培; 陈江川; 胡海明; 胡涛
刊名高能物理与核物理
2000
期号5页码:373-378
关键词积分亮度 双μ产生事例 双γ产生事例
其他题名New Methods to Measure Integrated Luminosity at BES
通讯作者黄光顺
中文摘要介绍了利用e+ e- 对撞中双 μ产生和双γ产生两种QED过程来测量积分亮度的新思路 .前者的特色在于用单根径迹选择双 μ事例 ,后者则是首次利用双γ事例测定亮度 .两种方法分别用于 1 998年春季北京谱仪 (BES)R值扫描 6个能量点的积分亮度测量 ,所得结果的误差分别小于 8.0 %和 7.5% ,在误差范围内与大角度巴巴事例积分亮度值一致
公开日期2016-02-26
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219682]  
专题高能物理研究所_实验物理中心
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GB/T 7714
黄光顺,程宝森,苑长征,等. 北京谱仪积分亮度测量的新方法[J]. 高能物理与核物理,2000(5):373-378.
APA 黄光顺.,程宝森.,苑长征.,李新华.,祁向荣.,...&赵政国.(2000).北京谱仪积分亮度测量的新方法.高能物理与核物理(5),373-378.
MLA 黄光顺,et al."北京谱仪积分亮度测量的新方法".高能物理与核物理 .5(2000):373-378.
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