BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟

	BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟
	雷广坤; 王靓; 朱海涛; 初元萍; 朱科军; 赵京伟
刊名	核电子学与探测技术
	2007
期号	2 页码:250-253
关键词	PowerPC VME BESⅢ 数据获取读出系统系统模拟
其他题名	The simulation of the front end electronics system in BESⅢ readout system testing
通讯作者	雷广坤
中文摘要	介绍了BESⅢ读出系统测试与研发中利用MVME2431单板计算机对前端电子学的模拟实现。叙述了BESⅢ前端电子学系统的功能及模拟其系统的目的;着重介绍模拟所采用的技术路线和实现办法,并对电子学模拟的整体性能进行了客观评估。
公开日期	2016-02-26
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219194]
专题	高能物理研究所_实验物理中心高能物理研究所_核技术应用研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	雷广坤,王靓,朱海涛,等. BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟[J]. 核电子学与探测技术,2007(2):250-253.
APA	雷广坤,王靓,朱海涛,初元萍,朱科军,&赵京伟.(2007).BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟.核电子学与探测技术(2),250-253.
MLA	雷广坤,et al."BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟".核电子学与探测技术 .2(2007):250-253.