塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进

CORC > 高能物理研究所 > 中国科学院高能物理研究所 > 粒子天体物理中心

	塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进
	任国孝
刊名	核技术
	1985
期号	4 页码:20
关键词	蚀刻槽控温精度
其他题名	IMPROVEMENT OF TEMPERATURE CONTROL OF ETCHING BATH FOR PLASTIC TRACK DETECTOR
通讯作者	任国孝
中文摘要	塑料径迹探测器的电荷分辨本领决定于材料本身结构的均匀性、蚀刻温度的稳定性、蚀刻液浓度的一致性等。特别在宇宙线实验中,探测器的面积大、数量多,需要大容积的蚀刻槽,有时还需要分批进行蚀刻。所以,蚀刻温度的控制以及槽内温度的分布对于探测器的电荷分辨本领有着重要的影响。塑料径迹探测器的蚀刻速率V与蚀刻温度T有如下关系:
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/218368]
专题	高能物理研究所_粒子天体物理中心
推荐引用方式 GB/T 7714	任国孝. 塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进[J]. 核技术,1985(4):20.
APA	任国孝.(1985).塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进.核技术(4),20.
MLA	任国孝."塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进".核技术 .4(1985):20.