利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响

	利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响
	刘晓旭; 殷景华; 程伟东; 卜文斌; 范勇; 吴忠华
刊名	物理学报
	2011
期号	5 页码:517-522
关键词	小角X射线散射纳米杂化聚酰亚胺界面
其他题名	Research on interface and fractal characteristics of PI /Al2 O3 Films by SAXS
中文摘要	采用溶胶-凝胶方法制备无机纳米杂化聚酰亚胺(PI),应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)方法研究不同组分杂化PI薄膜的界面特性与分形特征.研究结果表明散射曲线不遵守Porod定理,形成负偏离,说明薄膜中有机相与Al2O3纳米颗粒间存在界面层,界面层厚度在0.54nm到1.48nm范围内;随无机纳米组分增加,界面层厚度增加,有机相与无机相作用变强;无机纳米颗粒同时具有质量分形和表面分形特征,其分布、集结是一种非线性动力学过程;随组分增加,其质量分形维数降低,表面分形维数升高,即纳米颗粒结构变疏松、质量分布变得不均匀,有机高分子链对无机纳米颗粒锚定作用加强且锚点数增加,表面变得更加粗糙.最后,利...
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222912]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	刘晓旭,殷景华,程伟东,等. 利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响[J]. 物理学报,2011(5):517-522.
APA	刘晓旭,殷景华,程伟东,卜文斌,范勇,&吴忠华.(2011).利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响.物理学报(5),517-522.
MLA	刘晓旭,et al."利用小角X射线散射技术研究组分对聚酰亚胺/Al_2O_3杂化薄膜界面特性与分形特征的影响".物理学报 .5(2011):517-522.