掠出射X射线荧光谱仪性能评测

	掠出射X射线荧光谱仪性能评测
	魏向军; 徐清
刊名	光学学报
	2006
期号	9 页码:1435-1438
关键词	X射线光学掠出射X射线荧光性能评测 GaAs晶片全反射临界角
其他题名	Performance Evaluation of the Grazing-Exit X-Ray Fluorescence Spectrometry
中文摘要	通过对GaAs(100)抛光晶片在相同条件下掠出射X射线荧光实验的可重复性研究,并结合常规光源与同步辐射光源X射线掠出射荧光实验结果的对比,证明自行研制的掠出射X射线荧光平台可重复性较好,稳定性较高,实验方法的设计是合理的。理论计算与实验曲线符合的较好,证明掠出射X射线荧光实验中用单晶的全反射临界角标定掠出射角度的方法是可行的。用标准晶片掠出射X射线荧光曲线的微分评测了实际角发散度的大小。
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222413]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	魏向军,徐清. 掠出射X射线荧光谱仪性能评测[J]. 光学学报,2006(9):1435-1438.
APA	魏向军,&徐清.(2006).掠出射X射线荧光谱仪性能评测.光学学报(9),1435-1438.
MLA	魏向军,et al."掠出射X射线荧光谱仪性能评测".光学学报 .9(2006):1435-1438.