应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷 | |
丁嘉瑄; 徐家跃; 肖敬忠; 田玉莲; 朱佩平![]() ![]() | |
刊名 | 核技术
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2004 | |
期号 | 7页码:481-484 |
关键词 | Nd:SGG激光晶体 同步辐射白光形貌术 晶体缺陷 |
其他题名 | INVESTIGATIONS ON DEFECS OF Nd: SGG LASER CRYSTAL BY USING SYNCHROTRON RADIATION WHITE-BEAM TOPOGRAPHY METHOD |
中文摘要 | 应用同步辐射X射线形貌术对坩埚下降法生长的Nd:SGG晶体的缺陷进行了研究。观察到该晶体中存在较为明显的镶嵌结构晶界缺陷和位错缺陷,并分析了上述缺陷的形成原因。对提高Nd:SGG晶体质量、改进生长工艺具有一定的参考价值。 |
公开日期 | 2016-02-25 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222169] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 丁嘉瑄,徐家跃,肖敬忠,等. 应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷[J]. 核技术,2004(7):481-484. |
APA | 丁嘉瑄,徐家跃,肖敬忠,田玉莲,朱佩平,&袁清习.(2004).应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷.核技术(7),481-484. |
MLA | 丁嘉瑄,et al."应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷".核技术 .7(2004):481-484. |
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