应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷

	应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷
	丁嘉瑄; 徐家跃; 肖敬忠; 田玉莲; 朱佩平; 袁清习
刊名	核技术
	2004
期号	7 页码:481-484
关键词	Nd:SGG激光晶体同步辐射白光形貌术晶体缺陷
其他题名	INVESTIGATIONS ON DEFECS OF Nd: SGG LASER CRYSTAL BY USING SYNCHROTRON RADIATION WHITE-BEAM TOPOGRAPHY METHOD
中文摘要	应用同步辐射X射线形貌术对坩埚下降法生长的Nd:SGG晶体的缺陷进行了研究。观察到该晶体中存在较为明显的镶嵌结构晶界缺陷和位错缺陷,并分析了上述缺陷的形成原因。对提高Nd:SGG晶体质量、改进生长工艺具有一定的参考价值。
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222169]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	丁嘉瑄,徐家跃,肖敬忠,等. 应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷[J]. 核技术,2004(7):481-484.
APA	丁嘉瑄,徐家跃,肖敬忠,田玉莲,朱佩平,&袁清习.(2004).应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷.核技术(7),481-484.
MLA	丁嘉瑄,et al."应用同步辐射白光形貌术研究Nd:SGG晶体的缺陷".核技术 .7(2004):481-484.