掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构

	掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构
	谢治; 谢亚宁; 刘涛; 胡天斗; 闫文盛; 韦世强
刊名	核技术
	2004
期号	2 页码:87-90
关键词	荧光X射线吸收精细结构 Pt超薄膜掠入射
其他题名	LOCAL STRUCTURES OF Pt THIN FILMS STUDIED BY GRAZING INCIDENCE FLUORESCENCE XAFS
中文摘要	利用荧光 X 射线吸收精细结构（XAFS）技术研究了厚度为 3—105 nm 范围的分子束外延生长的 Pt 金属薄膜的局域结构。结果表明，30 nm 和 105 nm Pt 薄膜的 XAFS 结果与多晶 Pt 箔的相似，在径向结构函数图中的 2.61、3.80、4.63、5.43 ? 处出现第一、二、三和四配位壳层的配位峰，保持着 Pt 金属的面心立方结构特征。30 nm Pt 薄膜样品的结构参数：配位数 N＝11.9，键长 R＝2.77 ?，无序度σ2＝0.0055 ?2。3 nm 和 10 nmPt 超薄膜的径向结构函数曲线中的第一配位峰形状与 105 nm Pt 厚膜的相似，但强度明显降...
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222160]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	谢治,谢亚宁,刘涛,等. 掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构[J]. 核技术,2004(2):87-90.
APA	谢治,谢亚宁,刘涛,胡天斗,闫文盛,&韦世强.(2004).掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构.核技术(2),87-90.
MLA	谢治,et al."掠入射荧光XAFS研究Pt超薄膜的局域结构".核技术 .2(2004):87-90.