SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌

	SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌
	景晓宁; 胡小方; 赵建华; 王亚鸥; 田玉莲
刊名	材料科学与工程学报
	2003
期号	3 页码:327-330
关键词	同步辐射硬X射线 SXR-CT技术烧结陶瓷微结构拓扑形貌密度分布
其他题名	Application of Synchrotron Computed Microtomography to Study 3D Pore Topology and Density Distribution in Sintered Ceramics
中文摘要	借助同步辐射硬X射线高强度 ,强穿透 ,高分辨和天然准直性的特性 ,应用卷积反投影重建算法实现CT三维重建技术 ,简称SXR CT(SynchrotronX RayComputedTomography) ,研究了氧化物陶瓷烧结体残余孔隙的三维拓扑微结构。同时量化计算了样品的孔隙率和密度 ,较好地符合实验测量数据
公开日期	2016-02-25
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/222001]
专题	高能物理研究所_多学科研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	景晓宁,胡小方,赵建华,等. SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌[J]. 材料科学与工程学报,2003(3):327-330.
APA	景晓宁,胡小方,赵建华,王亚鸥,&田玉莲.(2003).SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌.材料科学与工程学报(3),327-330.
MLA	景晓宁,et al."SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌".材料科学与工程学报 .3(2003):327-330.