一种双光路探测横向剪切干涉仪及其干涉方法 | |
邹纯博; 李立波; 白清兰; 胡炳樑; 刘学斌; 孙剑 | |
2015-08-21 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | 201510518613.9 |
专利类型 | 发明 |
公开日期 | 2016-02-25 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/27674] |
专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 邹纯博,李立波,白清兰,等. 一种双光路探测横向剪切干涉仪及其干涉方法. 201510518613.9. 2015-08-21. |
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